{{{sourceTextContent.title}}}

ADX-2500 diffrazione ai raggi X (XRD)

{{{sourceTextContent.subTitle}}}

Diffrazione ai raggi X

{{{sourceTextContent.description}}}

ADX-2500 la diffrazione ai raggi X (XRD) è progettata per l'applicazione nella misura della microstruttura, nelle prove e nelle indagini approfondite della ricerca. Con differenti accessori e controllo corrispondente e software di calcolazione, ADX-2500 XRD è un sistema della diffrazione secondo i requisiti pratici in molti campi.

Il Diffractometer dei raggi x ADX-2500 fornisce l'analisi strutturale del campione monocristallo, policristallino ed amorfo. ADX-2500 X Ray Diffraction è capace di quanto segue: analisi qualitativa di fase ed analisi quantitativa (RIR, calibratura standard interna, calibratura standard esterna, criterio additivo), indirizzamento del modello, determinazione e perfezionamento delle cellule di unità, dimensione della cristallite e determinazione di sforzo, montaggio di profilo e perfezionamento della struttura, determinazione di tensione residua, analisi di struttura (ODF esprime la figura tridimensionale del palo), stima di cristallinità dalle aree di picco, analisi del film sottile ed altre.