{{{sourceTextContent.title}}}

La generazione Mentire-SEMs include l'analisi dei dati 3-D

{{{sourceTextContent.subTitle}}}

ZEISS presenta una nuova generazione di microscopi elettronici d'esplorazione messi a fuoco del raggio ionico (menta-SEMs) per le applicazioni di qualità superiore nella ricerca e nell'industria.

{{{sourceTextContent.description}}}

La trave trasversale 550 di ZEISS caratterizza un importante crescita nella risoluzione per la caratterizzazione di materiale e della rappresentazione e un aumento della velocità della preparazione del campione. Nanostructures quali i composti, i metalli, i biomateriali o i semiconduttori può essere studiato con i metodi della rappresentazione ed analitici parallelamente. La trave trasversale 550 permette la modifica ed il monitoraggio simultanei dei campioni, con conseguente preparazione veloce del campione ed alta capacità di lavorazione per esempio per la preparazione della lamella di TEM, di inter-divisione o nano-modellare.

Inoltre 550 fornisce la qualità eccellente di immagine nel 2-D e 3-D. Il nuovo modo in tandem del decel permette alla risoluzione migliorata insieme ad una massimizzazione di contrasto di immagine alle energie d'atterraggio basse. L'ottica di elettrone aprente la strada dei Gemelli II consegna simultaneamente la risoluzione ottimale a bassa tensione ed alta alla sonda correnti. MENTA la colonna combina il più alto disponibile MENTONO una corrente di Na 100 con il nuovo modo di FastMill, tenendo conto l'elaborazione materiale e la rappresentazione altamente precise e più efficienti parallelamente. Ulteriormente, il nuovo processo per il recupero automatizzato dell'emissione aumenta la cusabilià ed ottimizza MENTE la colonna per i risultati riproducibili durante gli esperimenti a lungo termine.