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Introdotti importanti miglioramenti nell'offerta di flussi di lavoro per le strutture di base della scienza dei materiali

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ZEISS introduce nuove funzionalità per i microscopi a fascio ionico ZEISS, che coprono i progressi nell'analisi, la tomografia, la preparazione del campione e l'integrità dei dati. Questo porta nuove possibilità nell'ingegneria dei materiali, materiali energetici, materiali morbidi e geoscienze che coprono megatrends nella produzione di additivi, nella ricerca sulle batterie e sul fotovoltaico, sui materiali da costruzione e sui nanomateriali

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Analisi

L'introduzione delle soluzioni SIMS per l'analisi elementare in tutta la famiglia ZEISS Crossbeam aggiunge una significativa capacità analitica ai microscopi a fascio ionico ZEISS. A ciò si aggiunge il nuovo sistema di rilevamento della spettrometria di massa agli ioni secondari di volo (ToF-SIMS) introdotto per l'ultimo membro della famiglia delle traverse ZEISS, ZEISS Crossbeam 350, così come su ZEISS Crossbeam 550

Tomografia

Nell'ambito dell'introduzione del nuovo microscopio elettronico a scansione a fascio ionico focalizzato (FIB-SEM), ZEISS Crossbeam 350, ZEISS introduce flussi di lavoro ottimizzati per la tomografia 3D per garantire la generazione di volumi di dati 3D leader della categoria. La misurazione quantificata e calibrata dello spessore della fetta z consente una ricostruzione quasi perfetta delle fette di tomogramma in un volume ricostruito. Un aggiornamento del pacchetto hardware e software di ZEISS Atlas 5 migliora l'analisi 3D (diffrazione statica della retrodiffrazione elettronica (EBSD)), i flussi di lavoro correlativi e la definizione dello spessore della fetta. Questa cosiddetta "tecnologia True Z" garantisce una tomografia FIB-SEM di alta qualità

Preparazione del campione

La nuova stazione di carico e portacampione per la preparazione delle lamelle con microscopia elettronica a trasmissione (TEM) rende più semplice l'uso del flusso di lavoro per la preparazione delle lamelle TEM e garantisce una transizione fluida del campione alla TEM per ulteriori analisi

Integrità dei dati

L'acquisizione dati ad alta velocità e di alta qualità è ulteriormente integrata con il rilascio di ZEISS ZEN Intellesis, un software di segmentazione basato sull'apprendimento automatico. I set di dati 3D di ZEISS Crossbeam 3D sono pienamente compatibili con questa suite di software di elaborazione delle immagini e di segmentazione. In questo modo si garantisce il mantenimento dell'integrità dei dati man mano che la velocità e la qualità dell'acquisizione dei dati vengono migliorate. La classificazione basata sulla tessitura fornita da questo software consente di estrarre informazioni precedentemente nascoste da campioni che vanno dai compositi di fibre alle rocce serbatoio.